钨灯丝扫描电子显微镜

联系人: 林先生
手机: 13771787343
电话: 0512-87775859
邮箱: sales@higotech.com
地址: 苏州工业园区星汉街5号B幢#05-02
留言咨询 更多信息
分享:

产品介绍

设备名称:场发射透射电子显微镜

型号: Tecnai G2 F20 S-Twin

厂家 美国FEI 公司

主要用途:

 • 该电镜是一台功能强大的材料分析型电子显微镜,广泛应用于生物、医药、化工、金属、半导体材料、

   高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域,可对材料的粒度、形貌、成分、内部结构和缺陷进行分析;

• 其配备的STEM/HAADF附件可以成和原子序数相关的像,和能谱仪结合还可以很方便的测量样品微区

   元素的线分布和面分布,对于高分辨像的解析非常有利;

• 像素高达2K×2K的CCD可以及时将电子显微像转换成数字照片进行输出,方便了用户。

 

主要配置:

• Gatan 894 CCD(2K×2K)

• STEM/HAADF探测器

• 美国EDAX能谱仪

• 低剂量曝光

• 单倾样品杆、双倾样品杆、低背景双倾样品杆

性能指标:

• 场发射电子枪

• 加速电压:20-200 kV连续调节

• 放大倍数:25-1,000,000

• 点分辨率:0.24nm

• 线分辨率:0.102nm;

• 信息分辨率:≤0.14nm

• STEM分辨率:0.20 nm

• STEM放大倍数:200-100,000,000

• EDS分辨率:优于136 eV,分辨元素范围B5-U92

• 样品倾角:±40°

钨灯丝扫描电子显微镜


联系人:林经理  手机:13771787343  电话:0512-87775859  地址:苏州工业园区星汉街5号B幢#05-02

CopyRight © 版权所有: 苏州工业园区浩高电子科技有限公司 网站地图 XML 商情信息 备案号:苏ICP备11070819号

本站关键字: X射线检测 无损检测 X-Ray检测 可靠性和失效分析 X射线检测服务 无损检测服务 X-Ray检测服务 可靠性和失效分析服务


扫一扫访问移动端