钨灯丝扫描电子显微镜
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产品介绍
设备名称:场发射透射电子显微镜
型号: Tecnai G2 F20 S-Twin
厂家: 美国FEI 公司
主要用途:
• 该电镜是一台功能强大的材料分析型电子显微镜,广泛应用于生物、医药、化工、金属、半导体材料、
高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域,可对材料的粒度、形貌、成分、内部结构和缺陷进行分析;
• 其配备的STEM/HAADF附件可以成和原子序数相关的像,和能谱仪结合还可以很方便的测量样品微区
元素的线分布和面分布,对于高分辨像的解析非常有利;
• 像素高达2K×2K的CCD可以及时将电子显微像转换成数字照片进行输出,方便了用户。
主要配置:
• Gatan 894 CCD(2K×2K)
• STEM/HAADF探测器
• 美国EDAX能谱仪
• 低剂量曝光
• 单倾样品杆、双倾样品杆、低背景双倾样品杆
性能指标:
• 场发射电子枪
• 加速电压:20-200 kV连续调节
• 放大倍数:25-1,000,000
• 点分辨率:0.24nm
• 线分辨率:0.102nm;
• 信息分辨率:≤0.14nm
• STEM分辨率:0.20 nm
• STEM放大倍数:200-100,000,000
• EDS分辨率:优于136 eV,分辨元素范围B5-U92
• 样品倾角:±40°