钨灯丝扫描电子显微镜
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场发射环境扫描电子显微镜
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冷场发射扫描电子显微镜
产品介绍
型号：Inspect S
厂家：美国FEI
主要用途 在高真空、低真空环境对样品各种材料的形貌组织观察、金属材料断口分析和失效分析。 性能指标 1.加速电压：200V-30 kV 2.放大倍数：7-1,000,000 3.可在高真空、低真空（270Pa) 下观察样品 样品室 284mm 分辨率 高真空 - 3.0nm at 30kV (SE)
- 4.0nm at 30kV (BSE)
- 10.0nm at 3kV (SE
低真空 - 3.0nm at 30kV (SE)
- 12.0nm at 3kV (SE)
