CT断层扫描
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CT断层扫描
- CT扫描是采用机算计断层扫描技术对产品进行无损检测 （NDT）和无损评价（NDE）的手段，利用断层成像技术，可实现产品无损可视化测量、组装瑕疵或材料分析。CT断层扫描是以非破坏性X射线技术，将待测物体做360°自转，通过单一轴面的射线穿透被测物体，根据被测物体各部分对射线的吸收与透射率不同，收集每个角度的穿透图像，之后利用电脑运算重构出待测物体的实体图像。对产品进行无损检测（NDT）和无损评价（NDE）的手段，可实现产品无损可视化测量、组装瑕疵或材料分析。
CT技术用X射线对样品进行扫描，射线穿透工件后到达探测器，形成影像。扫描过程中，样品会旋转360°，探测器在样品旋转过程中不断保存图片并上传到重建电脑中，电脑通过软件算法把二维图片重建成3D图像。通过分析软件，对3D图像进行分析，保存。
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