高温栅偏试验系统

产品详情

     系统可进行室温+ 10°C-200C的高温栅偏老化测试，老化过程中实时监测被测器件的漏电流状态、被测器件的电压状态，并根据需要，记录老化试验数据，导出试验报表。

产品参数

适用器件：

      各种封装的二极管、三极管、场效应管、可控硅、IGBT等器件进行高温反偏试验 （HTRB）和高温栅偏试验（HTGB）

试验温度：

      （环境温度＋20）°C~+200°C；分辨率≤0.1°C；温度均匀性：±1.0°C；温度偏差：±1.0°C at +100°C，±1.5°C at +200°C；

温度波动度：

      ±0.1°C at +100°C，±0.2°C at +200°C；单腔内部尺寸≥600*600*600（mm），总内容积≥216L；带可程序设计计时控制开关装置，双重超温保护功能。

试验通道：

      16个试验通道（试验区8区，电源8台，提供老化板16块）

试验容量：

      80位*16板=1280位

电源规格：

      电压60V（软件支持HTGB+/HTGB-实验切换）

基本功能：

断电保护：

      如突然断电；工控机会有UPS确保试验数据的安全保存，同时记录断电时间。此时，报警灯会提醒断电（直至UPS电源耗尽），系统电源切断。当再次来电时，整机不会自动启动，直至人工干预再继续工作。

远程监控：

      能远程监控，可在手机端查询实时数据并可进行相关控制操作。

系统功能：

      试验每通道电压/工位漏电流检测/试验箱温度检测；老化板插板状态检测；驱动板通信状态检测；每工位高压击穿保护（每工位串联一个快熔陶瓷保险丝）；具备测试数据自动生成可编辑试验报告，报表采用 EXCEL格式；可实时监控每工位漏电流并描绘出漏电曲线；支持入网，可Web 端远程监控。

产品特点

      将被测量元件放置在一定的环境温度中，给被测元件的栅极施加一定的偏置电压。同时测控系统实时检测每个材料的漏电流、电压，并根据预先设定，当被测材料实时漏电流超过设定值时，自动切断被测材料上的电压，可以保护被测元件不会进一步烧毁。