场发射透射电子显微镜

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产品介绍

失效分析是在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义,是根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。

我们为客户提供的电静检测分析服务为:场发射环境扫描电子显微镜、钨灯丝扫描电子显微镜冷场发射扫描电子显微镜、***电子显微镜、场发射透射电子显微镜

 

型号:Tecnai G2 F20 S-Twin


厂家:美国FEI 公司



场发射透射电子显微镜


主要用途:

1.该电镜是一台功能强大的材料分析型电子显微镜,广泛应用于生物、医药、化工、金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域,可对材料的粒度、形貌、成分、内部结构和缺陷进行分析;


2.其配备的STEM/HAADF附件可以成和原子序数相关的像,和能谱仪结合还可以很方便的测量样品微区元素的线分布和面分布,对于高分辨像的解析非常有利


3.像素高达2K×2K的CCD可以及时将电子显微像转换成数字照片进行输出,方便用户。


主要配置:

Gatan 894 CCD(2K×2K)

STEM/HAADF探测器

美国EDAX能谱仪

低剂量曝光

单倾样品杆、双倾样品杆、低背景双倾样品杆


性能指标:

1.场发射电子枪

2.加速电压:20-200 kV连续调节

3.放大倍数:25-1,000,000

4.点分辨率:0.24nm

5.线分辨率:0.102nm

6.信息分辨率:≤0.14nm

7.STEM分辨率:0.20 nm

8.STEM放大倍数:200-100,000,000

9.EDS分辨率:优于136 eV,分辨元素范围B5-U92

10.MAX样品倾角:±40°

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