间歇寿命试验IOL

间歇寿命老化试验的目的

● 评估器件的间歇工作可靠性： 考察器件在频繁开/关工作状态下的性能表现，评估其是否能够承受实际应用中的间歇工作模式。

● 发现潜在的失效机制： 通过间歇工作，暴露器件在频繁冷热冲击下可能出现的失效机制，如热应力、材料疲劳、焊接点开裂、封装损坏等。

● 预测器件的寿命和可靠性： 通过分析试验数据，预测器件在实际应用中的寿命和可靠性，为产品设计和质量控制提供依据。

● 改进器件的设计和制造工艺： 通过分析失效原因，改进器件的设计和制造工艺，提高其间歇工作可靠性。

间歇寿命老化试验的原理

间歇寿命老化试验的原理是利用器件频繁开/关产生的热应力来加速器件的老化过程。当器件频繁开/关时，由于器件内部温度的快速变化，会导致器件内部产生热应力。反复的开/关循环会使热应力不断累积，最终导致器件出现疲劳、开裂等失效现象。

间歇寿命老化测试原理图

间歇寿命老化试验的条件

间歇寿命老化试验的条件主要包括：

● 工作状态： 包括开（通电）和关（断电）两种状态。

● 工作周期： 指器件从开到关再到开的一个完整过程。

● 占空比： 指器件在一个工作周期内处于开状态的时间比例。

● 温度： 可以选择恒温或变温两种方式。

● 循环次数： 循环次数越多，器件承受的热应力累积越多，越容易出现失效。

间歇寿命老化试验的设备

间歇寿命老化试验需要使用专业的间歇寿命老化试验系统。该系统能够提供精确的电源控制和温度控制，以满足试验要求。

间歇寿命老化测试系统

间歇寿命老化试验的步骤

间歇寿命老化试验的步骤主要包括：

1.  准备： 将被测器件安装在测试夹具上，并连接到间歇寿命老化试验系统。

2.  设置参数： 根据试验标准或规范，设置工作状态、工作周期、占空比、温度和循环次数等参数。

3.  开始试验： 启动间歇寿命老化试验系统，开始进行间歇寿命老化试验。

4.  监控： 在试验过程中，需要定期或连续监控器件的性能参数，如漏电流、击穿电压等。

5.  数据分析： 分析测试数据，评估器件的可靠性，发现潜在失效机制，预测器件寿命。

间歇寿命老化试验的应用

间歇寿命老化试验广泛应用于半导体功率器件的可靠性评估、工艺改进、产品筛选等方面。例如：

● 可靠性评估： 用于评估功率 MOSFET、IGBT 等功率器件在间歇工作状态下的可靠性。

● 工艺改进： 通过分析失效原因，改进功率器件的封装、焊接等工艺，提高其间歇工作可靠性。

● 产品筛选： 用于筛选可靠性高的功率器件，确保产品质量。

间歇寿命老化试验的标准

间歇寿命老化试验需要参考相关的标准，以确保试验的准确性和可靠性。常见的标准包括：

● JEDEC JESD22-A115

● AEC-Q100

● MIL-STD-750