LED电源模组老化测试系统

    随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越细微，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中会产生潜伏缺陷。对一个好的电子产品，不但要求有较高的性能指标，而且还要有较高的稳定性。电子产品的稳定性取决于设计的合理性、元器件性能以及整机制造工艺等因素。
目前，国内外普遍采用高温老化测试工艺来提高电子产品的稳定性和可靠性，通过高温老化测试可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，保证出厂的产品能经得起时间的考验。
我们自主设计的高速动态老化测试系统，测试通道可达48-96通道，广泛应用于半导体、集成电路、电子元器件、SDRAM, DRAM, SRAM, EEPROM, EPROM, FLASH内存器件和逻辑电路.同时可为客户设计与定制老化测试系统、老化板。


 一、参数：

1.标配为输入直流电压24V；（可依据客户需求参数设计不同
电压范围）

2.输出直流电压3.3V\24V 两档；（可依据客户需求参数设计
不同电压范围）

3.采用USB-RS485隔离模块与电脑主机软件进行通讯协议、
传输数据稳定可靠；

4.软件主界面老化恒定时间与交变时间均可自由设定参数；

5.交变可进行有效的监控老化过程，软件界面操作简洁、参数
设定方便；

6.老化过程可生成实时数据、曲线等相关参数供追溯查阅。