***浩高电子科技X-Ray 无损检测 ***无损X-ray检测

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X-Ray射线检查是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击，根据样品不同部位对X射线吸收率和透射率的不同，利用X射线透过样品各部位衰减后的射线强度检测样品内部缺陷的一种方法。

X-Ray射线的衰减程度与样品的材料品种、厚度、密度有关。透过材料的X射线强度随材料的X射线吸收系数和厚度做指数衰减，材料的内部结构和缺陷对应于灰黑度不同的X射线影像图。

X-Ray射线一般用于检测电子元器件及印制电路板的内部结构、内引线开路或短路、粘结缺陷、焊点缺陷、封装裂纹、空洞、桥连、立碑及器件漏装等缺陷；同时可检测连接件、电子集成件、电缆、装具、塑料件、铝铸件等的内部结构及缺陷。

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